设备参数及用途:

主要技术参数：
常规测量模式：接触模式、轻敲模式、抬起模式、非接触模式、横向力显微镜（LFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、力曲线测量
扩展测量模式：扫描隧道显微镜（STM）、液体环境工作模式
扫描范围：12μm×12μm×2.5μm
样品尺寸：10mm×10mm×2mm
噪声水平：≤0.3A
光学辅助观察系统：450倍放大，分辨率1.6μm，带彩色CCD摄像头
配件及探针：
STM扫描头：提供扫描隧道显微镜功能
液体槽：提供液体环境工作模式
RTESP7探针：硅针尖，主要应用于轻敲模式的形貌测试l
NP-20探针：氮化硅针尖，主要应用于接触模式及力曲线测试
MESP探针：硅针尖表面铬涂层，主要应用于MFM、EFM的测试
PT探针：主要应用于STM的测试
功能/应用：
利用原子力显微镜对转录过程的研究；
利用原子力显微镜对大分子结构及相互作用的研究；
原子力显微镜在物质超微结构研究中的应用；
原子力显微镜在生物细胞表面形态的研究；
原子力显微镜用于生物分子之间力谱曲线的观测。